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          X熒光光譜儀與直讀光譜儀的區別

          來源: 時間:2023-06-20 10:55:22 瀏覽次數:

          X熒光光譜儀與直讀光譜儀雖然都是實現元素分析的可靠性儀器,但是因為檢測原理的不同,他們所呈現的檢測效果是不同的
          X熒光光譜儀與直讀光譜儀雖然都是實現元素分析的可靠性儀器,但是因為檢測原理的不同,他們所呈現的檢測效果是不同的。

          X熒光光譜儀,X射線打到待測樣品上,樣品中含那種元素會散發出特征X熒光,(原子中的電子都在一個個電子軌道上運行,而每個軌道的能量都是一定的,叫能級。內層軌道能級較低,外層軌道能級較高,當內層的電子受到X射線激發,有足夠的能量跳出內層軌道,那么,較外層的電子躍遷到內層的軌道進行補充,由于是從高能級上跳往低能級上,所以會釋放出能量,其能量以光的形式放出,這就是特征X射線)通過探測器放大處理特征X熒光,分析出那種元素,每種元素的特征X熒光強度正比于樣品中該元素的含量,通過內部預先存儲的校正曲線可測定其含量,并直接以百分比濃度顯示出來。X熒光光譜儀檢測的樣品范圍從粉末樣品、固體樣品、熔融樣品、液體樣品,不需要樣品具有導電性,金屬及非金屬樣品均可分析。

          直讀光譜儀,樣品通過電弧或火花放電激發生成原子蒸氣,該蒸氣中的原子與離子被激發后產生發射光譜。發射光譜通過光導纖維進入到光譜儀的分光室中,色散成各光譜波段。根據每個元素發射的波長范圍,通過光電倍增管可以測量出每個元素的譜線。每種元素的發射光譜譜線強度正比于樣品中該元素的含量,通過內部預先存儲的校正曲線可測定其含量,并直接以百分比濃度顯示出來。但是其只可對導電的金屬進行分析。

          X熒光光譜儀與直讀光譜儀因各自原理不同,可以為不同類型的企業提供產品質量保障。
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